| C-Stage C階 |
|
一個固態的樹脂聚合物的情況,具有高分子量,不會溶解和融化。 |
| CAD 電腦輔助設計 |
|
見電腦輔助設計。
|
| CAM 電腦輔助製造 |
|
見電腦輔助製造。
|
Card-edge
Connector 板邊緣連接器 |
|
見手指。 |
Center-to-Center Spacing 中心對中心間距 |
|
在印製電路板任何層間上相鄰要素或走線中心之間的標稱距離。 |
| Chamfer 倒角 |
|
一個由機械加工形成以減少鋒利邊緣的角。 |
Characteristic Impedance 特性阻抗 |
|
在一個信號傳送波中,電壓對電流的比率:比如,在這條線路上任意一點上的阻抗。特性阻抗用歐姆來表示。在印製電路中,這個值取決於導體的寬度和厚度,從導體到接地銅面的距離,和絕緣介質的介電常數。 |
Check
Plots 檢查菲林 |
|
只用來檢查印製電路板設計的菲林。它不會用於板的製造。 |
Circumferential Separation 環狀斷裂 |
|
沿著鍍通孔整個圓周方向上電鍍層的斷裂。 |
Chip-on-Board
(COB) 板上晶片直裝 |
|
在印製電路板上直接粘合並導線鍵合的積體電路。 |
Clad or Cladding 覆箔 |
|
一個相對比較薄的金屬箔層或片粘合在一個基材芯上,以形成印製電路的基材。 |
Clearance Hole 隔離孔 |
|
導電圖形上的孔,這個孔大於印製電路板基材中與之同心的孔。 |
Coefficient or Expansion, Thermal 熱膨脹係數(CTE) |
|
當單位溫度改變時,材料尺寸的微量改變。 |
| Component 元件 |
|
任何一個用來製造電子設備的基礎部件,比如電容,電阻等。 |
Component Hole 元件孔 |
|
用於將元器件端子(包括插針和導線)與印製板固定和/或實現電氣連接的孔。 |
Component Side 元件面 |
|
印製板上安裝大多數元器件的那個面。 |
Computer
Aided Design (CAD) 電腦輔助設計 |
|
一個工程師使用圖像螢幕或繪圖以建立並觀看一個設計的系統。在印製電路板設計中,CAD檔要提供給制造者。見電腦輔助製造。 |
Computer
Aided Manufacturing (CAM) 電腦輔助製造 |
|
製造者使用CAD資料來控制印製電路板製造過程各個方面的一個系統。檔類型包含Gerber檔,鑽孔檔,測試網表和製造圖紙。 |
Conductive
Anodic Filamentation (CAF) 陽極導電絲 |
|
由於在兩個相鄰導體之間的介質材料中形成的一根導電絲而造成的電氣短路。 |
Conductive Pattern 導電圖形 |
|
在基材上導體材料的設計形狀。包含導體,連接盤和導通連接等。 |
Conductor Spacing 導體間距 |
|
印製板的一層上兩個相鄰導體邊緣的間距,(並非中心線到中心線)。 |
Conductor Base Width 導體底部寬度 |
|
在基材平面上的導體寬度。見導體寬度。 |
Conductor-to-Hole Spacing 導體到孔的間距 |
|
從一個導體邊緣到一個支撐孔邊緣或非支撐孔邊緣的之間的間距。 |
Conductor Width 導體寬度 |
|
隨機選取印製電路板上導線任意點從其上方觀察到的寬度。 |
| Connector 連接器 |
|
一個能夠容易地從其匹配部分插入或分離插頭或插座 |
| Contaminant 污染物 |
|
出現在印製線路元件上的一個雜質或異物,能夠以電解,化學或電化學方式侵蝕系統。 |
Coordinate Tolerancing 座標公差 |
|
一種直接在線性和角度尺寸標注的公差來注明孔位公差的方法,通常呈現一個允許偏差的矩形區域。同樣見:位置限制公差和準確位置公差。 |
| Copper Foil 銅箔 |
|
一個陰極特性電解銅,用於印製電路的導體。它是根據一定數量的重量來製造的(厚度):傳統的重量是每平方英寸1和2盎司(0.0014" 和0.0028" 厚)。 |
Core Material 內層芯板 |
|
一個完全固化的內層部分,在其一面或兩面有電路,形成多層電路。 |
Cosmetic Defect 外觀缺陷 |
|
一個不會影響電路板功能的缺陷,比如其常規顏色的一點輕微改變。 |
| Coupon 測試條 |
|
一個提供品質一致性測試電路區域的圖形。見測試條。 |
| Crazing 微裂紋 |
|
一種在基材表面上或下形成為相連接的白色斑點或 "十字紋" 的情況,反映出在玻纖織物和連接編制在交叉部分的分離。 |
Current-Carrying Capacity 載流能力 |
|
在規定條件下,一個導體能夠連續地承載、而不會造成產品的電氣和機械性能明顯降低的最大電流。 |
CAT
Testing Conductor Analysis Technology CAT測試,導體分析技術 |
|
導體分析技術是一種通過IPC建立的資料庫, 比較一個公司的能力相對於其他公司的標杆方法。按照某幾個技術等級(例如層數,盲、埋孔)來評估線寬/間距,孔壁品質,阻抗及對準度等能力項目。通過對為捕捉某類市場而發展的技術生產的產品進行外部評估,從而得到結果。 |
CTE
Coefficient of Thermal Expansion 熱膨脹係數 |
|
一種當材料受熱後膨脹的趨向性度量。它是顯示材料受熱變化數量的熱機械性能特徵。CTE通常在x-y(板面方向)和z(板外部,比如通孔方向)尺寸上用ppm/攝氏度來表示。材料將會在低於它的Tg值時,在一個比率下變化,而在它通過Tg之後,按照一個較大的比率變化。 |